Программа СПбПУ исправляет искажения снимков сканирующего электронного микроскопа
Программа автоматически выравнивает строки изображений электронного микроскопа, сохраняя резкость границ. Она нужна для изучения нанопроволок, тонких пленок и пористых материалов.
Учёные Санкт-Петербургского политехнического университета Петра Великого (СПбПУ) зарегистрировали программу для ЭВМ. Она автоматически исправляет геометрические искажения на цифровых изображениях, которые получают в сканирующем электронном микроскопе (СЭМ). Программе присвоен патент № 2026686581.
При сканировании в электронном микроскопе часто возникает строчное смещение: строки изображения сдвигаются относительно друг друга. Из-за этого прямые линии становятся ломаными, симметричные структуры деформируются, а измерять размеры и анализировать морфологию становится труднее. Раньше такие искажения обычно правили вручную или сглаживающими фильтрами, которые размывают границы и снижают резкость.
Алгоритм программы вычисляет центр масс пиксельной интенсивности для каждой строки и находит идеальную ось выравнивания структуры методом наименьших квадратов. Затем строки сдвигаются до совпадения с этой прямой. Геометрия объектов восстанавливается без потери резкости границ.
Программа может использоваться в научных исследованиях для характеризации наноматериалов, например нанопроволок, тонких пленок и пористых материалов. Её также можно применять в лабораториях контроля качества для анализа микроструктуры промышленных образцов. В университете отмечают, что это упрощает анализ наноструктур, повышает точность измерений и сокращает время обработки данных.
Комментарии
Пока никто не написал. Будьте первым.